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X射線探測器系列化

X射線探測器系列化
線性探測器
      正比探測器、閃爍探測器
      使用時需要配置單色器,有效去掉Kβ線。
      最大線性計數:≥5×105CPS
      能譜分辨率:正比≤25%、閃爍≤50%。
SDD矽漂移探測器
      使用時不需要配置單色器,最大線性計數:≥1.5×105CPS、能譜分辨率≤200eV,較線性探測器,樣品測量速度提高4倍以上,可實現高分辨率X射線衍射測量。
高速一維陣列探測器
      由640個探測器組成的一維半導體陳列探測器,相比傳統的閃爍或正比探測器可以提高衍射強度120倍以上,在較短時間内,獲取高靈敏度、高分辨率完整的衍射譜圖,并且還有非常好的去熒光能力,即使是測量強熒光的樣品,一維半導體陳列探測器提供的數據也展示出非常好的信噪比。
      最大線性計數:≥9×109CPS,能譜分辨率:≤25%;有高計數模式及去除熒光背景兩種工作模式。
半導體線陣探測器
      探測器型号是: MiniPIX 60K 由捷克航空實驗室制作,有效面積14×14mm、像素尺寸55µm、像素數量256×256、每個像素計數率大于3×106cps。樣品測量速度較常規的正比探測器+單色器提高35倍以上。


半導體陣列探測器Si樣品衍射譜圖
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