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多功能樣品架


發明專利号:200810010370.8
多功能樣品架
随着材料研究的深入,越來越多的闆材、塊狀材料及基體上的膜也要求用X射線衍射儀進行性能分析。在測角儀上安裝多功能樣品架可以進行織構、宏觀應力、薄膜面内結構等測試,每一種測試功能都有相應的計算軟件。
碾軋闆(鋁、鐵、銅闆等)織構測量及評價
金屬、陶瓷等材料殘餘應力測量
薄膜樣品晶體優先方位的評價
大分子化合物取向測量
多功能樣品架用于織構樣品測量,軟件計算後分别繪制出極圖、反極圖、ODF圖。
多功能樣品架用于宏觀應力樣品測量,在-30-90°内設置幾點Psi角度,使樣品傾斜相應角度。在不同的Psi角度下,分别測量指定晶面的角度偏移量,計算出測量樣品的宏觀應力。
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