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DX-2700BH多功能衍射儀

組合式多功能X射線衍射儀和高分辨率X射線衍射儀廣泛應用于各種材料結構分析的各個領域。分析的材料包括:金屬材料、無機材料、複合材料、有機材料、納米材料、超導材料。可以分析的材料狀态包括:粉末樣品、塊狀樣品、薄膜樣品、微區微量樣品。廣泛應用于粘土礦物、水泥建材、環境粉塵、化工制品、藥品、石棉、岩礦、聚合物等研究領域。

DX系列衍射儀是為材料研究和工業産品分析設計的,是常規分析與特殊目的測量相結合的完善産品。
硬件系統和軟件系統的有效結合,滿足不同應用領域學者、科研者的需要
高精度的衍射角度測量系統,獲取更準确的測量結果
高穩定性的X射線發生器控制系統,得到更穩定的重複測量精度
各種功能附件滿足不同測試目的需要
程序化操作、一體化結構設計,操作簡便、儀器外型更美觀

X射線衍射儀是揭示材料晶體結構和化學信息的一種通用性測試儀器:
未知樣品中一種和多種物相鑒定
混合樣品中已知相定量分析
晶體結構解析(Rietveld結構分析)
非常規條件下晶體結構變化(高溫、低溫條件下)
薄膜樣品分析,包括薄膜物相、多層膜厚度、表面粗糙度,電荷密度
微區樣品的分析
金屬材料織構、應力分析

完善的品質與出色性能的結合
DX系列衍射儀除了基本功能外,可快速配置各種附件,具有超強的分析能力
高精度的機械加工,使附件安裝位置的重現性極大地提高,軟件自動識别相應附件,不需要對光路進行校準,附件安裝實現即插即用,簡單的操作就可滿足特殊目的測量的需要。

高性能與實用的有效結合
基于θ-θ幾何光學設計,便于樣品的制備和各種附件的安裝
金屬陶瓷X射線管的應用,極大提高衍射儀運行功率
封閉正比計數器,耐用免維護
矽漂移探測器具有優越的角度分辨率和能量分辨率,測量速度提高3倍以上
豐富的衍射儀附件,滿足不同分析目的需要
衍射儀各種功能附件自動識别
模塊化設計或稱即插即用組件,操作人員不需要校正光學系統,就能正确使用衍射儀相應附件

數據處理軟件包括以下功能
基本數據處理功能(尋峰、平滑、背景扣除、峰形拟合、峰形放大、譜圖對比、Kα1、α2剝離、衍射線條指标化等);
無标準樣品快速定量分析
晶粒尺寸測量
晶體結構分析(晶胞參數測量和精修)

宏觀應力測量和微觀應力計算;
多重繪圖的二維和三維顯示;
衍射峰圖群聚分析;
衍射數據半峰寬校正曲線;
衍射數據角度偏差校正曲線;
基于Rietveld常規定量分析;
使用ICDD數據庫或是用戶數據庫進行物相定性分析;
使用ICDD數據庫或是ICSD數據庫進行定量分析;
 
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