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DX-2800高分辨衍射儀

組合式多功能X射線衍射儀和高分辨率X射線衍射儀廣泛應用于各種材料結構分析的各個領域。分析的材料包括:金屬材料、無機材料、複合材料、有機材料、納米材料、超導材料。可以分析的材料狀态包括:粉末樣品、塊狀樣品、薄膜樣品、微區微量樣品。廣泛應用于粘土礦物、水泥建材、環境粉塵、化工制品、藥品、石棉、岩礦、聚合物等研究領域。
高分辨X射線衍射儀為精準研究材料結構而設計,能對樣品衍射角度進行精确測量,為得到準确的、可信賴的相分析及結構解析結果奠定堅實的基礎。
高分辨X射線衍射儀配置高穩定性X射線源、高性能半導體陣列計數器,可以在相對短的時間内獲取準确的的衍射譜圖。
樣品衍射角度由絕對增量式224位線光栅直接獲取,能避免測角儀其它部件對衍射角度的影響,确保儀器在使用壽命内始終獲得準确的峰位置。
國際标準樣品(Si、Al2O3)全譜範圍内所有峰的角度偏差不超過±0.01度。
X射線衍射譜圖提供有關樣品不同晶相的晶體結構等重要信息。這些信息包括點陣常數、點陣類型、原子替位、晶粒大小和非均勻應力,晶體結構能夠逐步通過樣品衍射譜圖解析。
 
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