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Rietveld 分析
在1969年H.M.Rietveld提出的全譜拟合結構精修是晶體材料結構分析具有價值的方法。可獲得樣品各種結構信息包括:物相含量,物相結構、晶胞參數、晶體尺寸等。與傳統定量方法相比,Rietveld分析是先進的,并且無需标準樣品即可得到含量在1%以内物相的精确結果。在此之前,使用粉末衍射進行混合樣品無标精确定量分析是不可能的。
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