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材料結構分析:
X射線衍射儀是确定未知樣品物相組成常用技術。X射線衍射進行相結構鑒别,區分樣品中主要相,次要相,和微量相化合物、元素含量,分析結果還包括物相名稱,化學式,晶體系統,晶胞參數晶粒尺寸等信息。使用晶體結構數據庫ICSD和材料結構數據庫ICDD數據庫作為樣品結構分析依據,使用Rietveld分析方法可以得到可靠物相定量分析結果和物相結構完整的信息。
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